申请/专利权人:吉林大学
申请日:2024-04-28
公开(公告)日:2024-06-21
公开(公告)号:CN118091777B
主分类号:G01V7/00
分类号:G01V7/00;G01V7/06
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.21#授权;2024.06.14#实质审查的生效;2024.05.28#公开
摘要:本发明涉及一种高灵敏单物质重力检测及多物质探测装置及其方法,包括:阵列谐振结构、待测物质吸附薄膜、第二探测物质吸附薄膜、无吸附作用薄膜;阵列谐振结构包括:基座、第一谐振结构、第二谐振结构、第三谐振结构、第一耦合结构、第二耦合结构,第一谐振结构、第二谐振结构和第三谐振结构通过矩形立柱等距排列在基座上,且第二谐振结构的固定端与第一谐振结构、第三谐振结构的固定端朝向相反,第一耦合结构和第二耦合结构用于连接第一谐振结构、第二谐振结构和第三谐振结构;本发明的优点:用不对称的局部化可以对小质量物质进行高灵敏度单物质重力检测,并且可以在进行单物质重力检测时对多物质进行探测。
主权项:1.一种高灵敏单物质重力检测及多物质探测装置,其特征在于,包括:阵列谐振结构、待测物质吸附薄膜、第二探测物质吸附薄膜、以及无吸附作用薄膜;所述阵列谐振结构包括:基座、第一谐振结构、第二谐振结构、第三谐振结构、第一耦合结构、以及第二耦合结构,所述第一谐振结构、第二谐振结构和第三谐振结构通过矩形立柱等距排列在基座上,且第二谐振结构的固定端与第一谐振结构、第三谐振结构的固定端朝向相反,所述无吸附作用薄膜、第二探测物质吸附薄膜和待测物质吸附薄膜依次安装在第一谐振结构、第二谐振结构、第三谐振结构上,所述第一耦合结构的两端与第一谐振结构、第二谐振结构的侧表面固连,所述第二耦合结构的两端与第二谐振结构、第三谐振结构的侧表面固连,所述基座受激振后将振动传递至第一谐振结构、第二谐振结构、第三谐振结构、第一耦合结构和第二耦合结构,并通过第一谐振结构、第二谐振结构、第三谐振结构上的无吸附作用薄膜、第二探测物质吸附薄膜、待测物质吸附薄膜进行重力检测和物质探测,以及通过第一耦合结构和第二耦合结构控制第一谐振结构、第二谐振结构、第三谐振结构之间的灵敏度和保证第二谐振结构在单物质重力检测时本征向量不变。
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权利要求:
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