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申请/专利权人：北京吉太电磁科技有限公司
申请日：2024-02-02
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN221196792U
主分类号：F16M11/08
分类号：F16M11/08;F16M11/20
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权
摘要：本实用新型公开了一种场均匀性测试探头支架，涉及探头支架技术领域，本实用新型包括底盘，所述底盘的内壁中轴处固定连接有支撑柱，所述底盘的顶部固定连接有若干个支撑斜板，所述支撑斜板与支撑柱所固定连接，所述底盘的顶部固定连接有限位盖，所述支撑柱的外壁中轴处固定连接有调节环，本实用新型通过设置了支撑柱上的调节环，当调节所需要使用的高度时转动扭块，当扭块被转动时会使调节柱从调节环内脱离，随及使调节环呈活动状，随及使调节环上移或下移调节其高度，随及还可以转动调节环从而调节其探头所使用的角度，达到了可以及时调节设备使用高度和角度。
主权项：1.一种场均匀性测试探头支架，包括底盘（1），其特征在于：所述底盘（1）的内壁中轴处固定连接有支撑柱（101），所述底盘（1）的顶部固定连接有若干个支撑斜板（102），所述支撑斜板（102）与支撑柱（101）所固定连接，所述底盘（1）的顶部固定连接有限位盖（103），所述支撑柱（101）的外壁中轴处固定连接有调节环（104），所述调节环（104）的内壁中轴处固定连接有调节柱（105），所述调节柱（105）的外壁固定连接有扭块（106）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京吉太电磁科技有限公司 一种场均匀性测试探头支架
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