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申请/专利权人：安徽理工大学
申请日：2023-10-14
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN221198294U
主分类号：G01B5/24
分类号：G01B5/24;G01B11/26;G01B11/30;G01N1/28;G01B5/28;G01S17/08
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权
摘要：本发明公开一种测量岩石端面不平行度与粗糙度的装置，该装置是由底座、滑轨、激光测距仪、升降柱、支撑柱、刻度板、限位板、岩石试件、固定装置、固定螺栓、双向激光测距仪组成，使用该装置，能够同时测量岩石端面的不平行度与粗糙度，该装置具有结构简单、精度高、易于操作等优点。
主权项：1.一种测量岩石端面不平行度与粗糙度的装置，该装置是由底座1、滑轨2、①号激光测距仪3、升降柱4、②号激光测距仪5、支撑柱6、①号刻度板7、限位板8、岩石试件9、固定装置10、固定螺栓11、②号刻度板12、①号双向激光测距仪13、②号双向激光测距仪14、③号刻度板15组成，其特征在于：①号激光测距仪3、②号激光测距仪5、升降柱4和滑轨2组成粗糙度测量系统；①号双向激光测距仪13、②号双向激光测距仪14、滑轨2和升降柱4组成不平行度测量系统；固定装置10和固定螺栓11组成固定系统；在不平行度测量系统中，升降柱4上端安装①号双向激光测距仪13和②号双向激光测距仪14，升降柱4下端通过凹槽与滑轨2连接；在粗糙度测量系统中，升降柱4上端安装①号激光测距仪3和②号激光测距仪5，升降柱4下端通过凹槽与滑轨2连接；固定系统两侧设有限位板8，限位板8凹槽与滑轨2连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 安徽理工大学 一种测量岩石端面不平行度与粗糙度的装置
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