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申请/专利权人：武汉天马微电子有限公司;武汉天马微电子有限公司上海分公司
申请日：2024-03-29
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118243540A
主分类号：G01N3/32
分类号：G01N3/32;G01N3/06;G01N3/02;G01B11/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：本申请实施例提供了弯折测试系统、弯折治具及弯折测试方法，系统包括弯折治具、标记件、第一图像采集组件和处理器；弯折治具包括第一部分、转轴和第二部分，第二部分绕转轴相对第一部分转动；标记件包括第一标记件和第二标记件，第一标记件与第一部分连接，第二标记件与第二部分连接；第一标记件和第二标记件位于第一图像采集组件的镜头所在的一侧，第一图像采集组件用于采集第二部分相对第一部分转动多个不同角度时的多个第一图像；处理器用于根据多个第一图像中的第一标记件的位置对第二标记件的位置进行校准，根据在多个不同角度时的第二标记件校准后的位置，得到第二部分的弯折轨迹。本申请实施例能够提高弯折治具的弯折轨迹检测的准确性。
主权项：1.一种弯折测试系统，其特征在于，所述弯折测试系统包括弯折治具、标记件、第一图像采集组件和处理器；所述弯折治具包括第一部分、转轴和第二部分，所述第二部分通过所述转轴与所述第一部分连接，所述第二部分绕所述转轴相对所述第一部分转动；所述标记件包括第一标记件和第二标记件，所述第一标记件与所述第一部分连接，所述第二标记件与所述第二部分连接；所述第一标记件和所述第二标记件设置在所述弯折治具的第一侧，所述第一图像采集组件的镜头朝向所述弯折治具的第一侧，所述第一图像采集组件用于采集所述第二部分相对所述第一部分转动多个不同角度时的多个第一图像，不同的所述角度对应不同的所述第一图像；所述处理器与所述第一图像采集组件电连接，所述处理器用于根据所述多个第一图像中的所述第一标记件的位置对所述多个第一图像中的所述第二标记件的位置进行校准，得到在所述多个不同角度时的所述第二标记件校准后的位置，以及根据在所述多个不同角度时的所述第二标记件校准后的位置，得到所述第二部分的弯折轨迹。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉天马微电子有限公司;武汉天马微电子有限公司上海分公司 弯折测试系统、弯折治具及弯折测试方法
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