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一种相位噪声分析仪及相位噪声分析方法 

申请/专利权人:西安科技大学

申请日:2024-03-05

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118244019A

主分类号:G01R29/26

分类号:G01R29/26;G01R1/14

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本发明涉及相位噪声分析技术领域,具体公开了一种相位噪声分析仪及相位噪声分析方法,包括待测源信号模块、参考源信号模块、第一信号处理支路、第二信号处理支路、第三信号处理支路、第四信号处理支路、第一相位差计算模块与第二相位差计算模块,第一信号处理支路包括第一模数转换单元,第二信号处理支路包括第二模数转换单元,第三信号处理支路包括第三模数转换单元,第四信号处理支路包括第四模数转换单元,第一模数转换单元和第二模数转换单元设于同一芯片中;第三模数转换单元和第四模数转换单元设于同一芯片中。本发明首次考虑了电路的分布噪声影响,利用电路分布噪声的相关性,能够有效的移除分布噪声,明显的提升系统的测量能力。

主权项:1.一种相位噪声分析仪,其特征在于,所述相位噪声分析仪包括待测源信号模块、参考源信号模块,以及第一信号处理支路、第二信号处理支路、第三信号处理支路、第四信号处理支路和第一相位差计算模块与第二相位差计算模块,其中:所述待测源信号模块输出第一待测信号和第二待测信号,所述参考源信号模块输出第一参考信号和第二参考信号;所述第一信号处理支路包括相连的第一模数转换单元和第一变频信号处理单元,所述第一参考信号输入所述第一数模转换单元,并从所述第一变频信号处理单元输出至所述第一相位差计算模块;所述第二信号处理支路包括相连的第二模数转换单元和第二变频信号处理单元,所述第一待测信号输入所述第二数模转换单元,并从所述第二变频信号处理单元输出至所述第一相位差计算模块;所述第三信号处理支路包括相连的第三模数转换单元和第三变频信号处理单元,所述第二待测信号输入所述第三数模转换单元,并从所述第三变频信号处理单元输出至所述第二相位差计算模块;所述第四信号处理支路包括相连的第四模数转换单元和第四变频信号处理单元,所述第二参考信号输入所述第四数模转换单元,并从所述第四变频信号处理单元输出至所述第二相位差计算模块;所述第一相位差计算模块用于根据所述第一信号处理支路和所述第二信号处理支路的信号计算相位差;所述第二相位差计算模块用于根据所述第三信号处理支路和所述第四信号处理支路的信号计算相位差;所述第一模数转换单元和所述第二模数转换单元设于同一芯片中;所述第三模数转换单元和所述第四模数转换单元设于同一芯片中。

全文数据:

权利要求:

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