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光口测试治具配置信息读取方法、装置及光口测试治具 

申请/专利权人:苏州元脑智能科技有限公司

申请日:2024-05-29

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN118250168A

主分类号:H04L41/0866

分类号:H04L41/0866;H04B10/079;H04L49/111;H04L49/55

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.25#公开

摘要:本发明提供一种光口测试治具配置信息读取方法、装置及光口测试治具,涉及数据处理技术领域,按照预设数据结构对光口测试治具配置信息进行构建,得到构建后光口测试治具配置信息;在将构建后光口测试治具配置信息写入非易失介质之前,确定与构建后光口测试治具配置信息对应的参考校验值;将构建后光口测试治具配置信息写入非易失介质的第一页面,得到第一页面光口测试治具配置信息;基于第一页面光口测试治具配置信息,计算得到与第一页面光口测试治具配置信息对应的第一页面校验值;基于参考校验值和第一页面校验值,由非易失介质读取得到光口测试治具配置信息。准确读取出有效的光口测试治具配置信息,不受光口测试治具在运行过程中掉电影响。

主权项:1.一种光口测试治具配置信息读取方法,其特征在于,所述方法包括:按照预设数据结构,对光口测试治具配置信息进行构建,得到构建后光口测试治具配置信息,其中,所述预设数据结构至少包括校验值位点和光口测试治具配置信息位点;在将所述构建后光口测试治具配置信息写入非易失介质之前,确定与所述构建后光口测试治具配置信息对应的参考校验值;将所述构建后光口测试治具配置信息写入非易失介质的第一页面,得到写入所述第一页面的第一页面光口测试治具配置信息;基于所述第一页面光口测试治具配置信息,计算得到与所述第一页面光口测试治具配置信息对应的第一页面校验值;基于所述参考校验值和所述第一页面校验值,由所述非易失介质读取得到所述光口测试治具配置信息。

全文数据:

权利要求:

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