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【发明授权】基于体积分布系数的绝缘子上下表面不均匀积污分析方法_中铁第一勘察设计院集团有限公司;重庆大学_202111195114.2 

申请/专利权人:中铁第一勘察设计院集团有限公司;重庆大学

申请日:2021-10-12

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN113947040B

主分类号:G06F30/28

分类号:G06F30/28;G06F113/08;G06F119/14

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2022.02.08#实质审查的生效;2022.01.18#公开

摘要:本发明提供的一种基于体积分布系数的绝缘子上下表面不均匀积污分析方法,包括:S1.采集目标输电线路的绝缘子的积污参数并对积污参数进行预处理;S2.将预处理后的积污参数输入到流体力学计算软件中,确定出目标输电线路的绝缘子的上表面污秽颗粒分布体积分数vus和下表面污秽颗粒分布体积分数vls;S3.根据绝缘子的上表面污秽颗粒分布体积分数vus和下表面污秽颗粒分布体积分数vls确定出目标绝缘子的上表面和下表面在第i个时刻的不均匀度ki;S4.根据第i个时刻的不均匀度ki确定出目标绝缘子在设定积污期的污秽不均度k,能够准确确定出绝缘子表面的污秽不均度状态。

主权项:1.一种基于体积分布系数的绝缘子上下表面不均匀积污分析方法,其特征在于:包括以下步骤:S1.采集目标输电线路的绝缘子的积污参数并对积污参数进行预处理,积污参数包括污秽颗粒浓度、颗粒粒径以及风速;S2.将预处理后的积污参数输入到流体力学计算软件中,确定出目标输电线路的绝缘子的上表面污秽颗粒分布体积分数vus和下表面污秽颗粒分布体积分数vls;S3.根据绝缘子的上表面污秽颗粒分布体积分数vus和下表面污秽颗粒分布体积分数vls确定出目标绝缘子的上表面和下表面在第i个时刻的不均匀度ki;S4.根据第i个时刻的不均匀度ki确定出目标绝缘子在设定积污期的污秽不均度k;步骤S3中,根据如下方法确定第i个时刻的不均匀度ki: 其中,vusi为第i个时刻的绝缘子上表面污秽颗粒分布体积分数;vlsi为第i个时刻的绝缘子下表面污秽颗粒分布体积分数;步骤S4中,通过如下方法确定目标绝缘子在设定积污期的污秽不均度k: 其中,s1为目标绝缘子上表面积,s2为目标绝缘子下表面积,n为设定积污期划分的n个时刻;步骤S1中,通过如下方法对积污参数进行预处理:找出同一类别积污参数的最大值和最小值,并求出该类别积污参数极差;将极差输入到Excel的ROUNDUP函数中得出同一类别积污参数的分组情况;采用最大似然估计算法计算不同分组数据的概率分布值,并得出该类别的积污参数单位时间内50%概率分布值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中铁第一勘察设计院集团有限公司;重庆大学 基于体积分布系数的绝缘子上下表面不均匀积污分析方法

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