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申请/专利权人：惠的半导体(上海)有限公司
申请日：2023-11-08
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN221224440U
主分类号：G01N3/10
分类号：G01N3/10;G01N3/02;G01N3/04
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.25#授权
摘要：本实用新型公开了一种芯片推拉力测试仪，包括底座、竖隔板、液压杆和横板，所述底座的上方安装有竖隔板，且竖隔板的内壁通过螺栓固定有液压杆，并且液压杆的输出端和横板相连接；还包括：连接丝杆，其设置在所述横板的下方，所述连接丝杆的外壁和固定块相连接，且连接丝杆的右端安装有第一把手。该芯片推拉力测试仪，横板和液压杆的输出端相连接，且横板的下方设置有第一推杆，第一推杆的下方设置有第二推杆，并且第一推杆和第二推杆的内壁均开设有限位孔，同时限位孔在第二推杆的内壁等间距分布，这样便于对第一推杆和第二推杆的长度进行精准调节，在液压杆移动距离固定的情况下，可以对芯片的不同厚度位置进行推拉力测试，提高测试效果。
主权项：1.一种芯片推拉力测试仪，包括底座1、竖隔板2、液压杆3和横板4，所述底座1的上方安装有竖隔板2，且竖隔板2的内壁通过螺栓固定有液压杆3，并且液压杆3的输出端和横板4相连接；其特征在于，还包括：连接丝杆5，其设置在所述横板4的下方，所述连接丝杆5的外壁和固定块6相连接，且连接丝杆5的右端安装有第一把手7，所述固定块6的底部和第一推杆8相连接，且第一推杆8的下方设置有第二推杆9；旋转杆12，其轴承连接于所述底座1的内部，所述旋转杆12的外壁和固定拉绳13的一端相连接，且固定拉绳13的另一端和底板14相连接，并且底板14的顶端安装有限位板15；第二把手17，其安装在所述旋转杆12的前端。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 惠的半导体(上海)有限公司 一种芯片推拉力测试仪
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