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半导体设备的测试报告辅助生成系统、方法、介质和设备 

申请/专利权人:中科芯微智能装备(沈阳)有限公司

申请日:2024-03-27

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118260140A

主分类号:G06F11/22

分类号:G06F11/22

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本发明提供了一种半导体设备的测试报告辅助生成系统、方法、介质和设备,该系统包括用户权限管理模块,用于接收软件管理员的指令,根据所述软件管理员的指令为已录入数据库的操作人员分配对应的操作权限;测试模板生成模块,用于接收测试人员和质检人员的配置指令,根据所述配置指令生成与不同半导体设备的测试项目对应的产品测试模板;测试报告生成模块,用于接收测试人员和质检人员在半导体设备测试过程中对产品测试模板的录入操作,根据所述录入操作生成当前测试项目对应的产品测试结果。该系统用于辅助测试人员记录和管理半导体设备的测试数据,提升工作效率。

主权项:1.一种半导体设备的测试报告辅助生成系统,其特征在于,包括:用户权限管理模块,用于接收软件管理员的指令,根据所述软件管理员的指令为已录入数据库的操作人员分配对应的操作权限;测试模板生成模块,用于接收测试人员和质检人员的配置指令,根据所述配置指令生成与不同半导体设备的测试项目对应的产品测试模板;测试报告生成模块,用于接收测试人员和质检人员在半导体设备测试过程中对产品测试模板的录入操作,根据所述录入操作生成当前测试项目对应的产品测试结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中科芯微智能装备(沈阳)有限公司 半导体设备的测试报告辅助生成系统、方法、介质和设备

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