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一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法 

申请/专利权人:常州锐奇精密测量技术有限公司

申请日:2024-05-31

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118259338A

主分类号:G01T7/00

分类号:G01T7/00;G01N9/24;G01B15/02

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本发明涉及射线测量技术领域,尤其涉及一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法,包括以下步骤:S1.准备标准片:将若干不同面密度厚度值的标准片固定在支架同一平面上,标准片与射线测量传感器相互平行;S2.测量标准片:射线测量传感器移动至标准片处,依次对各个标准片进行测量,根据若干标准片的已知面密度厚度值和测量的信号值进行曲线拟合,得到拟合模型;S3.实时测量矫正:射线测量传感器实时对被测物体进行测量,获得被测物体的信号值,根据实时测量的信号值和S2中建立的拟合模型计算被测物体的面密度厚度值;S4.周期性矫正:周期性重复S2和S3,能够简单、快速地实现对射线测量传感器的标定和校准,提高测量精度。

主权项:1.一种补偿射线测量传感器能量衰减的标定校准方法,其特征在于,包括以下步骤:S1.准备标准片:将若干不同面密度厚度值的标准片固定在支架同一平面上,标准片与射线测量传感器相互平行;S2.测量标准片:射线测量传感器移动至标准片处,依次对各个标准片进行测量,获得标准片的信号值,根据若干标准片的已知面密度厚度值和测量的信号值进行曲线拟合,得到拟合模型;S3.实时测量矫正:射线测量传感器实时对被测物体进行测量,获得被测物体的信号值,根据实时测量的信号值和S2中建立的拟合模型计算被测物体的面密度厚度值;S4.周期性矫正:周期性重复S2和S3,获得新的拟合模型,并根据新的拟合模型计算被测物体的面密度厚度值。

全文数据:

权利要求:

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