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申请/专利权人：泰山科技学院
申请日：2024-03-29
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118261877A
主分类号：G06T7/00
分类号：G06T7/00;G06T7/11;G06N3/045;G06N3/0464;G06N3/09
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：本发明提供一种印刷电路电子元器件寿命评估与维护方法，本发明通过对印刷电路板进行整体识别可定位到芯片所在区域，通过分割X光相应区域图像进行缺陷检测可避免电路板其他区域所带来的影响，在进行芯片区域时，本发明针对多尺度的芯片目标时引入大尺度卷积核和坐标注意力模块增大感受视野，同时为了提高特征图精度，尽量避免过多预先降采样操作，通过上述方法，本发明无需进行物理和化学的拆解即可完成对整个印刷电路电子元器件寿命评估，大大节约了检测耗材同时提升了检测效率。
主权项：1.一种印刷电路电子元器件寿命评估与维护方法，该方法包括以下步骤：S1：利用图像采集设备拍摄得到待检查的印刷电路板图像，所述印刷电路板图像包括采用同一拍摄位置采集得到的印刷电路板可见光图像和X光图像；S2:采用第一检测网络对印刷电路板可见光图像进行识别，得到印刷电路板缺陷信息；S3:采用第二检测网络对印刷电路板可见光图像进行识别，得到芯片位置信息；S4:利用步骤S3识别得到的芯片位置信息分割X光图像中的芯片区域，并将所述芯片区域图像输入至第三检测网络中，得到芯片内部缺陷信息；S5:根据印刷电路板缺陷和芯片内部缺陷信息评估印刷电路电子元器件使用寿命并给出维护建议。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 泰山科技学院 一种印刷电路电子元器件寿命评估与维护方法
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