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申请/专利权人：广州众诺微电子有限公司
摘要：本发明涉及扫描领域，具体涉及一种扫描补正方法、扫描设备及芯片。在本发明实施例提供的扫描补正方法、扫描设备及芯片中，第一待扫描物体为专门用于扫描补正的待扫描物体，对第一待扫描物体进行扫描得到第一扫描数据，基于该第一扫描数据分析扫描模块的扫描偏差，进而基于此得到补正系数。而第二待扫描物体为扫描设备根据用户需求而扫描的待扫描物体，也即，第二待扫描物体可以是用户放置于扫描设备中并希望被扫描的待扫描物体，由于原始状态即不作任何处理的状态下扫描模块对第二待扫描物体扫描会出现扫描偏差，因而需要通过补正系数补正对第二待扫描物体进行扫描后得到的第二扫描数据，从而得到有关于第二待扫描物体更准确的扫描结果。
主权项：1.一种扫描补正方法，应用于扫描设备中，其特征在于，所述扫描补正方法包括：对第一待扫描物体进行扫描，得到第一扫描数据；根据所述第一扫描数据，得到补正系数；对第二待扫描物体进行扫描，得到第二扫描数据；根据所述补正系数对所述第二扫描数据进行补正；其中，所述第一待扫描物体为专门用于扫描补正的待扫描物体，所述第二待扫描物体为所述扫描设备根据用户需求而扫描的待扫描物体。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 广州众诺微电子有限公司 扫描补正方法、扫描设备及芯片
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