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调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片 

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申请/专利权人:北京芯驰半导体科技股份有限公司

摘要:本申请提供了一种调节扫描测试电路的方法、扫描测试电路及芯片,调节扫描测试电路的方法包括:在电路中插入扫描测试链;利用测试生成工具生成针对所述电路的测试模式,测试模式包括对所述电路中各节点的激励信号;加载测试模式至所述扫描测试链;将电路的输入信号传输至扫描测试链的第一个触发器,通过移位操作将输入信号从第一个触发器传递至最后一个触发器;确定测试模式中电路的输出信号,基于输出信号判断电路是否满足电路的设计需求;若电路不满足设计需求,确定电路对应的时钟集合中每个时钟驱动的寄存器数量;若第一时钟驱动的寄存器数量大于寄存器阈值,则控制所述第一时钟对应的延时电路导通。

主权项:1.一种调节扫描测试电路的方法,其特征在于,所述方法包括:在电路中插入扫描测试链,所述扫描测试链包括至少两个触发器,所述触发器用于在所述电路中移位数据;利用测试生成工具生成针对所述电路的测试模式,所述测试模式包括对所述电路中各节点的激励信号;加载所述测试模式至所述扫描测试链;将所述电路的输入信号传输至所述扫描测试链的第一个触发器,通过移位操作将所述输入信号从所述第一个触发器传递至所述扫描测试链的最后一个触发器;确定所述测试模式中所述电路的输出信号,基于所述输出信号判断所述电路是否满足所述电路的设计需求;若所述电路不满足所述设计需求,则确定所述电路对应的时钟集合;确定所述时钟集合中每个时钟驱动的寄存器数量;若所述时钟集合中第一时钟驱动的寄存器数量大于寄存器阈值,则通过延时调节单元控制所述第一时钟对应的延时电路导通;其中,所述第一时钟对应多个延时电路,每个所述延时电路与一个延时调节单元连接,每个所述延时电路包括多个延时单元;所述多个延时单元串联连接,串联连接的最后一个延时单元与寄存器连接。

全文数据:

权利要求:

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