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申请/专利权人：沐曦集成电路(上海)有限公司

摘要：本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种判断芯片功能特征收敛的方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、获取芯片组成模块列表；步骤S2、建立每一Mk对应的hk条功能特征映射信息；步骤S3、对芯片设计进行仿真验证，生成测试列表和覆盖率数据库；步骤S4、基于功能特征映射信息、测试列表和覆盖率数据库，确定每一子功能特征对应的测试用例通过率和功能覆盖率；步骤S5、若子功能特征对应的测试用例通过率超过预设通过率阈值且功能覆盖率超过预设覆盖率阈值，则确定子功能特征收敛，否则，确定子功能特征不收敛。本发明提高了提高芯片验证效率。

主权项：1.一种判断芯片功能特征收敛的方法，其特征在于，包括：步骤S1、获取芯片组成模块列表{M1,M2,…,Mk,…,MK}，其中，Mk为第k个芯片组成模块，k的取值范围为1到K，K为芯片组成模块总数；步骤S2、建立每一Mk对应的hk条功能特征映射信息{G1k,G2k,…,Gtk,…,Ghkk}，其中，Gtk为Mk对应的第t条功能特征映射信息，t的取值范围为1到hk，hk为Mk对应的子功能特征总数，Gtk＝ftk,Fn,TLtk,CLtk，ftk为Mk对应的第t个子功能特征，ftk由Fn拆分得到，TLtk为ftk对应的测试用例列表，测试用例列表中包括至少一个测试用例标识，CLtk为ftk对应的功能覆盖率路径列表，功能覆盖率路径列表中包括至少一个功能覆盖路径标识，Fn为芯片的第n个功能特征，n的取值范围为1到N，N为芯片的功能特征总数；步骤S3、对芯片设计进行仿真验证，生成测试列表和覆盖率数据库，所述测试列表包括测试用例标识和测试用例通过信息，所述覆盖率数据库包括功能覆盖路径标识和功能覆盖路径命中信息；步骤S4、基于功能特征映射信息、测试列表和覆盖率数据库，确定每一子功能特征对应的测试用例通过率和功能覆盖率；步骤S5、若子功能特征对应的测试用例通过率超过预设通过率阈值且功能覆盖率超过预设覆盖率阈值，则确定子功能特征收敛，否则，确定子功能特征不收敛；所述步骤S4之后还包括：步骤S6、遍历所有功能特征映射信息，获取芯片功能特征Fn对应的所有子功能特征的对应的测试用例通过率和功能覆盖率；步骤S7、将Fn对应的所有子功能特征的对应的测试用例通过率之和确定为Fn对应的测试用例通过率，将Fn对应的所有子功能特征的功能覆盖率之和确定为Fn对应的功能覆盖率；步骤S8、若Fn对应的测试用例通过率超过预设通过率阈值且Fn对应的功能覆盖率超过预设覆盖率阈值，则确定Fn对应的收敛，否则，确定Fn对应的不收敛。

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