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申请/专利权人：北华航天工业学院

摘要：本发明专利公开一种基于高光谱技术玉米籽粒胚芽区霉变检测方法，包括a.利用高光谱设备采集玉米籽粒胚芽区的光谱数据；b.利用归一化方法对步骤a中获取的高光谱数据进行处理；c.针对步骤b中归一化方法处理后的高光谱信息数据，提取玉米籽粒胚芽区的五个特征波段，并构建波长、归一化光谱反射率的二维空间坐标系；d.利用步骤c中的五个特征波段建立的二维空间坐标，分别计算特征一T1和特征二T2；e.利用步骤d中的特征一T1和特征二T2计算最终区分特征C,当最终区分特征C＜阈值时为霉变玉米籽粒，当C≥阈值时为正常玉米籽粒；本发明弥补传统种子活力测定方法的不足的问题，能有效提取玉米籽粒胚芽区霉变区的信息，实现玉米籽粒霉变信息的检测。

主权项：1.一种基于高光谱技术玉米籽粒胚芽区霉变检测方法，其特征在于，包括如下步骤：a.利用高光谱设备采集玉米籽粒胚芽区的光谱数据；b.利用归一化方法对步骤a中获取的高光谱数据进行处理；c.针对步骤b中归一化方法处理后的高光谱信息数据，提取玉米籽粒胚芽区的五个特征波段，分别为：b1436nm、b2515nm、b3675nm、b4716nm、b5840nm，将波长设为X坐标，将对应波长的归一化光谱反射率设为Y坐标，构建波长、归一化光谱反射率的二维空间坐标系，同时将五个点的二维空间坐标设置为AW1，P1、BW2，P2、CW3，P3、DW4，P4、EW5，P5，其中W表示波长，P表示归一化光谱反射率；d.利用步骤c中的五个特征波段建立的二维空间坐标，分别计算特征一T1和特征二T2；T1的计算公式如下： F＝m*x+b其中，X为特征波段的波长，m和b的计算公式如下： 其中，波长平方的平均值计算公式如下： 波长和归一化光谱反射率乘积的平均值计算公式如下： 归一化光谱反射率的平均值计算公式如下： 波长的平均值计算公式如下： T2的计算公式如下：T2＝|W1*P2-W2*P1+W2*P3-W3*P2+W3*P4-W4*P3+W4*P5-W5*P4+W5*P1-W1*P5|*0.5e.利用步骤d中的特征一T1和特征二T2计算最终区分特征C,依据最终区分特征C的阈值进行内部霉变玉米籽粒分类，当最终区分特征C＜阈值时为霉变玉米籽粒，当C≥阈值时为正常玉米籽粒；最终区分特征C的计算公式如下： 其中T2为特征二，T1为特征一。

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