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申请/专利权人：苏州徴格半导体有限公司;上海徴格半导体有限公司
摘要：本发明提供的基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质，其中方法步骤包括：迭代计算及ADC工作频率；设ADC芯片工作频率为，读取数据获取输入信号频率点对应的索引值SI；根据FFTL的相位噪声点数据长度是否与RBW重合，记录FFTL中SI第一或第二范围的相位噪声点数据至相位噪声表PNL，并对应跳出循环或继续迭代计算；同理将ADC芯片频率设置为F，获取对应索引值NSI；记录NSI第三范围的相位噪声点数据至PNL中；设置相位噪声索引表PNIL记录PNL中相位噪声点数据value对应的数据索引、测量频率及分辨率带宽；根据value索引PNIL计算对应相位噪声。
主权项：1.一种基于频谱分析的相位噪声测量方法，步骤包括：根据当前可处理的最大数据长度S及ADC芯片的工作频率F，确定分辨率带宽RBW；根据预设迭代条件N，迭代计算包括：当前条件下的及ADC工作频率；将ADC芯片工作频率设置为，读取数据建立频率数据表FFTList，获取其中输入信号频率点对应的索引值SI；当判断FFTList的相位噪声点数据长度与RBW重合时，记录FFTList中SI第一范围的相位噪声点数据至相噪表，跳出循环、否则记录SI第二范围的相位噪声点数据至相噪表，继续迭代计算；将ADC芯片工作频率设置为F，读取数据建立频率数据表NFFTList，获取其中输入信号频率点对应的索引值NSI；记录NSI涵盖关注的测量频率范围的相位噪声点数据至相噪表中；设置相噪索引表记录相噪表中相位噪声点数据value对应的数据索引、测量频率freq及分辨率带宽rbw；根据value索引相噪索引表计算对应相位噪声。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州徴格半导体有限公司 上海徴格半导体有限公司 一种基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质
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