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申请/专利权人：天津大学;北京是卓科技有限公司
摘要：本发明涉及一种基于FPGA时间测量的跨节点区的盲区时间测量方法及设备；该方法包括：提供用于校准的校准信号；并基于FPGA设置两个进位链路；将校准信号同时输入第一进位链路的第n个节点和第二进位链路的第m个节点；采样得到校准信号到达第二进位链路中跨节点区的盲区的起点和终点时，第一进位链路中对应时刻的两个节点位置，进而得到第二进位链路跨节点区的盲区的延迟时间，通过融合第一进位链路和第二进位链路的时间测量信息，可以得到精准、无盲区的时间测量值。本发明解决了现有技术中的基于FPGA的时间测量方法，由于进位链路跨节点区的盲区的延迟时间存在着非线性，导致部分时刻的时间不准确，影响测量精度的问题。
主权项：1.一种基于FPGA时间测量的跨节点区的盲区时间测量方法，其特征在于，包括：提供用于校准的校准信号；并基于所述FPGA设置两个进位链路；将所述校准信号同时输入目标节点区内的第一进位链路的第n个节点和第二进位链路的第m个节点，且；采样得到所述校准信号到达第二进位链路中跨节点区的盲区的起点和终点时，所述校准信号到达的第一进位链路中对应时刻的两个节点位置；基于第一进位链路中对应的两个所述节点位置间的延迟时间，得到所述第二进位链路跨节点区的盲区的延迟时间。
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权利要求：
百度查询： 天津大学 北京是卓科技有限公司 基于FPGA时间测量的跨节点区的盲区时间测量方法及设备
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