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申请/专利权人：中国人民解放军海军工程大学
摘要：本发明提供一种高分子材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质。所述方法包括：获取高分子材料的组分、密度和厚度，并根据所述高分子材料的组分、密度和厚度，确定辐射场环境下高分子材料内部的光子能量沉积和中子能量沉积；将所述光子能量沉积和所述中子能量沉积输入至高分子材料辐射损伤模型中，得到高分子材料经辐射后的相对分子量；根据高分子材料经辐射后的相对分子量，判断所述高分子材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤。本发明通过高分子材料辐射损伤模型判断高分子材料是否发生辐射损伤，提高了辐射损伤判断的准确性，具有较高的应用价值。
主权项：1.一种高分子材料核辐射损伤判断方法，其特征在于，包括：获取高分子材料的组分、密度和厚度，并根据所述高分子材料的组分、密度和厚度，确定辐射场环境下高分子材料内部的光子能量沉积和中子能量沉积；将所述光子能量沉积和所述中子能量沉积输入至高分子材料辐射损伤模型中，得到高分子材料经辐射后的相对分子量；根据高分子材料经辐射后的相对分子量，判断所述高分子材料在辐射场环境下是否发生辐射损伤；其中，所述高分子材料辐射损伤模型是以高分子材料内部的光子能量沉积和中子能量沉积作为样本，以与所述样本对应的高分子材料经辐射后的相对分子量作为样本标签训练得到；所述高分子材料辐射损伤模型为：N＝Um,n+Um,p·NAUm,0 其中，N为高分子材料主链断键次数，Um,n和Um,p分别为每摩尔中子和光子的能量，Um,0为高分子材料主链上最弱化学键的键能，NA为阿伏伽德罗常数，M0为未经辐射的高分子材料的相对分子量，M为高分子材料经辐射后的相对分子量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国人民解放军海军工程大学 高分子材料核辐射损伤判断方法、装置、设备及介质
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