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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要：本发明涉及辐射计量技术领域，尤其涉及一种可溯源至SI的低温太阳直接辐射绝对测量装置及方法，包括数据处理集成单元，以及与数据处理集成单元连接的真空单元、低温太阳辐射探测单元、CCD相机单元、对日跟踪指向单元和透过率检测单元，其中，真空单元与低温太阳辐射探测单元为一体结构，低温太阳辐射探测单元和透过率检测单元并排固定在对日跟踪指向单元上，CCD相机单元固定在透过率检测单元的一侧，且CCD相机单元与真空单元并排布置。本发明能够实现地表太阳直接辐射的高精度测量，且为我国在太阳辐射计量、地球辐射收支平衡、气候变化、农业估产、太阳物理学等研究提供了关键的数据基础。
主权项：1.一种可溯源至SI的低温太阳直接辐射绝对测量装置，其特征在于，包括数据处理集成单元，以及与所述数据处理集成单元连接的真空单元、低温太阳辐射探测单元、CCD相机单元、对日跟踪指向单元和透过率检测单元，其中，所述真空单元与所述低温太阳辐射探测单元为一体结构，所述低温太阳辐射探测单元和所述透过率检测单元并排固定在所述对日跟踪指向单元上，所述CCD相机单元固定在所述透过率检测单元的一侧，且所述CCD相机单元与所述真空单元并排布置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 可溯源至SI的低温太阳直接辐射绝对测量装置及方法
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