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申请/专利权人：索尼半导体解决方案公司
摘要：本技术的测距装置具备：光源部，对测距对象物照射脉冲状的光；光检测部，以像素单位接收基于来自光源部的照射脉冲光的、来自测距对象物的反射脉冲光；采样电路部，以预定的采样频率对光检测部的输出信号进行采样，并输出采样值，光检测部的输出信号基于反射脉冲光；直方图生成部，基于从采样电路部输出的采样值，生成示出每个时间段的反射脉冲光的强度的直方图；以及控制部，控制从采样电路部输入到直方图生成部的采样值的输入定时。
主权项：1.一种测距装置，具备：光源部，对测距对象物照射脉冲状的光；光检测部，以像素单位接收基于来自所述光源部的照射脉冲光的、来自所述测距对象物的反射脉冲光；采样电路部，以预定的采样频率对所述光检测部的输出信号进行采样，并输出采样值，所述光检测部的所述输出信号基于所述反射脉冲光；直方图生成部，基于从所述采样电路部输出的所述采样值，生成示出每个时间段的所述反射脉冲光的强度的直方图；以及控制部，控制从所述采样电路部输入到所述直方图生成部的所述采样值的输入定时。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 索尼半导体解决方案公司 测距装置以及测距装置的控制方法
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