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申请/专利权人：泰瑞达公司
摘要：本发明公开一种示例性测试系统，该示例性测试系统具有分布式资源以供被测试器件DUT访问。该示例性测试系统包括器件接口板DIB和测试器，该DIB具有连接至待测器件的站点，该测试器具有被配置为保持测试仪器的狭槽。每个测试仪器具有分布在DIB的维度上的资源。该资源被分布以使得站点中的器件能够同等地访问资源。
主权项：1.一种测试系统，所述测试系统包括：器件接口板DIB，所述DIB包括连接至待测器件的站点；和测试器，所述测试器包括被配置为保持测试仪器的狭槽，每个测试仪器具有分布在所述DIB的维度上的资源，所述资源被分布为使得所述站点中的所述器件能够同等地访问所述资源；以及互连器，所述互连器位于所述DIB与所述测试器之间，所述互连器包括所述测试仪器与所述DIB之间的路由连接；其中所述互连器包括用于处理传导通过所述路由连接的信号的电路；以及其中所述电路被配置为通过组合来自另外两个路由连接的第一信号来处理所述信号，以产生用于输出到单个路由连接的第二信号，所述单个路由连接通到所述DIB上的资源。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 泰瑞达公司 具有分布式资源的测试系统
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