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一种氧化钨多电阻态调控方法 

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申请/专利权人:清华大学

摘要:本申请提供了一种氧化钨多电阻态调控方法,所述方法包括:将氧化钨置于包括氢气的气体环境中,所述氢气的含量为3vol.%至100vol.%;向针尖状电极施加不同的电压与所述氧化钨形成不同的偏压;所述氧化钨与所述针尖状电极接触,在氧化钨中引入氢离子或者将氧化钨中的氢离子移出。三氧化钨是一种绝缘的氧化物,由于电子掺杂作用,随着注入氢离子的浓度或计量提高,其电阻降低。本申请通过控制针尖状电极上电压正负、大小和反应时间,可以调节三氧化钨中的氢离子浓度,进而精准控制三氧化钨的电阻,实现多阻态的调控。避免了液体的离子介质的引入,并利用针尖状电极的小尺寸,可以实现纳米尺度的氢离子注入,解决了该类器件难以小型化的问题。

主权项:1.一种氧化钨多电阻态调控方法,其特征在于,所述方法包括:将氧化钨置于包括氢气的气体环境中,所述氢气的含量为3vol.%至100vol.%;向针尖状电极施加不同的电压与所述氧化钨形成不同的偏压;所述氧化钨与所述针尖状电极接触,在氧化钨中引入氢离子或者将氧化钨中的氢离子移出;所述方法在0℃至50℃下调控氧化钨的电阻态;所述氧化钨置于基底上,所述基底的电阻率为0.1Ωcm至0.001Ωcm;所述基底选自Nb:STO基底、Nb:TiO2基底和掺杂硅中的任意一种或更多种。

全文数据:

权利要求:

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