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申请/专利权人：长沙麓邦光电科技有限公司
摘要：本发明涉及光学技术领域，公开一种波片测量系统，以提高测量精度和广度。本发明系统包括：光源；分立于被测波片两侧的起偏器和检偏器；用于驱动检偏器的检偏方向与起偏方向之间夹角变化的旋转装置，设有跟踪两偏振方向夹角所对应位点的编码器；与所述编码器连接的光谱仪，用于被所述编码器硬触发以逐一采集并分析检偏器在各位点所出射光束中，任一波长所对应的光强；与所述光纤光谱仪及所述编码器连接的控制主机，用于将起偏角设为参考0°，并将目标波长所对应的光强信息与位点进行对齐，对离散的光强‑位点分布信息做傅里叶变化后提取出偏振方向夹角所对应的二次项系数，再根据该二次项系数计算出被测波片的快轴方向和相位延迟量。
主权项：1.一种波片测量系统，其特征在于，包括：光源；分立于被测波片两侧的起偏器和检偏器；用于驱动检偏器的检偏方向与起偏方向之间夹角变化的旋转装置，设有跟踪两偏振方向夹角所对应位点的编码器；与所述编码器连接的光谱仪，用于被所述编码器硬触发以逐一采集并分析检偏器在各位点所出射光束中，任一波长所对应的光强；与所述光纤光谱仪及所述编码器连接的控制主机，用于将起偏角设为参考0°，并将目标波长所对应的光强信息与位点进行对齐，对离散的光强-位点分布信息做傅里叶变化后提取出偏振方向夹角所对应的二次项系数，再根据该二次项系数计算出被测波片的快轴方向和相位延迟量；计算原理具体为：起偏器的Stokes向量Sin为： 被测波片的Mueller矩阵Mwave表示为：且： 其中，δ为相位延迟量，为快轴方向；当两偏振方向夹角为a时，检偏器所对应的穆勒矩阵为： 经过检偏器后，出射光的Stokes向量Sout为：Sout＝Ma●Mwave·Sin；由于光谱仪只能接受光强信号，使得：Sout的第一项即为光强I；得到： 对于同一被测波片，在同一个波长下，δ和为是恒定值，I是a的函数。对I做快速傅里叶变换，提取a的二次项系数A2、B2，得到： 对应任一波长，A2、B2为已知量，进而通过二次项系数方程组得被测波片的快轴方向和相位延迟量。
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权利要求：
百度查询： 长沙麓邦光电科技有限公司 波片测量系统
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