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申请/专利权人：北京艾锐精仪科技有限公司

摘要：本发明公开一种荧光各向异性探测方法及其探测系统，该系统包括偏振激光发射器，其用于发射偏振激光，偏振激光发射器一端同轴布置有准直扩束透镜组，准直扩束透镜组末端设有偏振分束器；偏振分束器一端设有同轴布置的第一半波片和条纹调制器，另一端设置有透镜，透镜末端设有同轴布置的变间距空间滤波器、分区半波片和中继透镜；中继透镜末端依次设有二向色镜、物镜和样本；二向色镜一侧设有发射滤光片，发射滤光片的轴线与物镜的轴线垂直，发射滤光片末端同轴布置有第二半波片、管透镜、渥拉斯顿偏振棱镜；渥拉斯顿偏振棱镜末端设有光束调节面镜组，光束调节面镜组末端设有相机。本发明结合上述系统的探测方法，能够实现对荧光各向异性的探测。

主权项：1.一种荧光各向异性探测方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一，偏振激光入射条纹调制器，经条纹调制器后反射不同衍射级次的光线，不同衍射级次的光线经变间距空间滤波器过滤并调整偏振方向，完成结构光的偏振调制；步骤二，调制后的不同衍射级次的光线经过二向色镜透射激发光至物镜，进而共轭到物镜后的样本表面发生干涉，由此形成结构光照明光场，同时结构光照明光场照射样本表面发射的荧光信号被物镜获取，荧光信号通过二向色镜反射并经渥拉斯顿偏振棱镜后产生方向正交的两束偏振荧光信号；两束正交的偏振荧光信号调整到相机成像感光单元上；步骤三，首先利用条纹调制器调制第一图案，经步骤一偏振调制垂直方向结构光，经步骤二使用垂直偏振激发样本表面产生荧光信号，采集并观察荧光信号的垂直荧光强度和水平荧光强度；再利用条纹调制器调制第二图案，重复步骤一偏振调制水平方向结构光，重复步骤二使用水平偏振激发样本表面产生荧光信号，采集并观察荧光信号的垂直荧光强度和水平荧光强度；结合第一图案和第二图案测得的荧光强度数据，得到样本荧光各向异性参数；调制第一图案Iv时，观察到的垂直荧光强度Ivv，水平荧光强度Ivh；荧光偏振参数表示为： 荧光辐射有一个垂直偏振激发和两个相同的水平分量，因此总的荧光强度表示为：It＝Ivv+2Ivh荧光各向异性表示如下： 引入一个参数Λv＝IvvIvh，则垂直方向测得荧光各向异性表示为： 调制第二图案Ih时，观察到的垂直荧光强度Ihv，水平荧光强度Ihh，基于上述公式，得到水平方向荧光各向异性表示为： 所计算的参数r即探测所得的样本荧光各向异性结果。

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