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申请/专利权人：中国原子能科学研究院

摘要：本发明的实施例公开了一种氢同位素组分含量的质谱分析方法。该方法包括：将氢同位素的混合气体经过钯分离柱分离后的气体进样至质谱仪，以进行检测；其中，混合气体含有氢、氘、氚中的两种氢同位素；质谱仪检测从钯分离柱依次流出的气体成分，得到质谱数据；根据质谱数据中各气体成分对应的不同质荷比的离子流强度以及进样压力，标定混合气体中各同位素气体的分压与离子流强度的线性关系；将待测气体经过钯分离柱分离后进样至质谱仪，得到待测气体的质谱数据，根据质谱数据中不同质荷比的离子流强度以及标定的线性关系，确定各同位素气体的分压；根据各同位素气体的分压以及进样压力，确定待测气体中各氢同位素组分的丰度。

主权项：1.一种氢同位素组分含量的质谱分析方法，其特征在于，包括：将氢同位素的混合气体经过钯分离柱分离后的气体进样至质谱仪，以进行检测；其中，所述混合气体含有氢、氘、氚中的两种氢同位素；所述质谱仪检测从所述钯分离柱依次流出的气体成分，得到质谱数据；根据所述质谱数据中各气体成分对应的不同质荷比的离子流强度以及进样压力，标定所述混合气体中各同位素气体的分压与离子流强度的线性关系；将待测气体经过所述钯分离柱分离后进样至所述质谱仪，得到所述待测气体的质谱数据，根据所述质谱数据中不同质荷比的离子流强度以及标定的所述线性关系，确定各同位素气体的分压；根据各同位素气体的分压以及进样压力，确定所述待测气体中各氢同位素组分的丰度；所述氢同位素混合气体中含有A和B两种氢同位素，其中A的相对原子质量小于B的相对原子质量；从所述钯分离柱流出的气体成分依次为B2、B2和AB混合气、AB、A2和AB混合气、A2；分别对各气体成分对应的质谱数据进行分析，标定B2、A2和AB的分压与离子流强度的线性关系；对气体成分为高纯A2或高纯B2时对应的质谱数据进行分析，标定B2或A2的分压与离子流强度的线性关系，包括：设定A或B的丰度为99％；根据A2或B2对应的离子流强度，标定A2或B2的分压与离子流强度的线性关系；根据进样压力、B2和AB混合气对应的质谱数据以及标定的所述B2的分压与离子流强度的线性关系，标定AB的分压与离子流强度的线性关系；或者根据进样压力、A2和AB混合气对应的质谱数据以及标定的所述A2的分压与离子流强度的线性关系，标定AB的分压与离子流强度的线性关系；所述方法还包括：配制所述氢同位素的混合气体，所述氢同位素的混合气体中各同位素组分的丰度为预定丰度值；向混气容器中充入所述两种氢同位素的单质气体；静置所述混气容器，使所述混气容器中气体混合均匀，得到氢同位素的混合气体；其中，所述混合气体中预定丰度值较低的氢同位素组分对应的单质气体优先充入所述混气容器中。

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