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一种芯片检测用次品自动剔除装置 

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申请/专利权人:蓝芯存储技术(赣州)有限公司

摘要:本发明提供了一种芯片检测用次品自动剔除装置,包括芯片检测台,芯片检测台的顶端中央位置固定安装有支架,支架的外观在一个纵截面上呈“┗”形状,支架的顶侧外表面中央位置固定安装有芯片放置台;收集箱,芯片检测台的右端底部位置固定安装有收集箱,收集箱的外观呈内部中空、上开下闭且左直右凸形状;收尘组件。该种芯片检测用次品自动剔除装置,可以起到使收集箱具备收尘功能,当次品在芯片放置台上被吹气装置吹气剔除时,即便外界的灰尘杂质与芯片一并经收集管被吹至收集箱内,也能即使对该收集箱内的灰尘进行收集处理,避免了所收集的芯片表面粘附有太多灰尘杂质而对芯片造成损害的作用。

主权项:1.一种芯片检测用次品自动剔除装置,其特征在于:包括芯片检测台(1),所述芯片检测台(1)的顶端中央位置固定安装有支架(3),所述支架(3)的外观在一个纵截面上呈“┗”形状,所述支架(3)的顶侧外表面中央位置固定安装有芯片放置台(301);收集箱(2),所述芯片检测台(1)的右端底部位置固定安装有收集箱(2),所述收集箱(2)的外观呈内部中空、上开下闭且左直右凸形状;收尘组件(7),所述收集箱(2)的内部左端位置活动安装有可以收集灰尘并防止扬出的收尘组件(7),所述收尘组件(7)包括有导尘滑板(8)、可以引导灰尘收集的引尘组件(9)和可以对灰尘进行浸湿的浸尘组件(14);所述收集箱(2)的左内壁上端位置斜向固定安装有导尘滑板(8),所述导尘滑板(8)的外观在一个纵截面上呈内角为106°的折形板状,所述导尘滑板(8)的左端尾部斜向固定安装于所述收集箱(2)的左内壁上端位置,所述导尘滑板(8)的左端顶侧外表面与水平面的夹角为16°,所述导尘滑板(8)的右端尾部呈上下垂直状,所述导尘滑板(8)的右端底部固定安装于所述收集箱(2)的底壁前后水平向中端位置,所述导尘滑板(8)的内壁与所述收集箱(2)的内壁之间形成一个梯形状的封闭空腔;所述收集箱(2)的内部左端上至下部之间位置活动安装有引尘组件(9);所述收集箱(2)的内部上端左至中部之间位置活动安装有浸尘组件(14)。

全文数据:

权利要求:

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