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申请/专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心

摘要：本申请公开了一种激光相位噪声欠采样测量方法、设备、介质及产品，涉及相干合成技术领域，该方法包括：基于下采样信号的调制频率和采样率，确定下采样信号的最小积分点数；基于时间信号和调制频率，对电压信号进行IQ调制，得到第一调制信号和第二调制信号；基于最小积分点数分别对第一调制信号和第二调制信号进行积分，得到第一调制积分信号和第二调制积分信号，进而确定单周期相位恢复值；基于单周期相位恢复值完成相位解卷绕，完成全周期相位恢复，本申请利用积分调节法能够在欠采样和不损失测量精度的条件下完成相位噪声测量，进而降低数据存储和计算的要求。

主权项：1.一种激光相位噪声欠采样测量方法，其特征在于，所述激光相位噪声欠采样测量方法应用于一种实验光路结构，所述实验光路结构包括：种子激光器、分束器、放大器、声光调制器、信号发生器、合束器、光探测器和示波器；所述种子激光器用于发出种子激光；所述分束器设置于所述种子激光器的输出光路上；所述种子激光器将种子激光进行分束，得到第一光束和第二光束；所述放大器设置于所述分束器的第一光束输出光路上；所述放大器用于对第一光束进行放大处理，得到测试光束；所述声光调制器设置于所述分束器的第二光束输出光路上；所述声光调制器还与所述信号发生器连接；所述声光调制器用于基于所述信号发生器的输出信号对第二光束进行调制生成参考光束；所述合束器设置于所述放大器的输出光路上；所述合束器还设置于所述声光调制器的输出光路上；所述合束器用于对所述测试光束和所述参考光束进行合束处理，得到合成光束；所述光探测器设置于所述合束器的输出光路上；所述光探测器用于获取拍频信号；所述示波器与所述光探测器连接；所述示波器用于对拍频信号进行波形检测，并对拍频信号进行下采样处理，得到下采样信号；所述激光相位噪声欠采样测量方法包括：获取下采样信号；所述下采样信号包括时间信号和电压信号；基于所述下采样信号的调制频率和采样率，确定所述下采样信号的最小积分点数；基于所述时间信号和所述调制频率，对所述电压信号进行IQ调制，得到第一调制信号和第二调制信号；基于所述最小积分点数对所述第一调制信号进行积分，得到第一调制积分信号；基于所述最小积分点数对所述第二调制信号进行积分，得到第二调制积分信号；基于所述第一调制积分信号和所述第二调制积分信号，确定单周期相位恢复值；基于单周期相位恢复值完成相位解卷绕，完成全周期相位恢复。

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