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申请/专利权人：核工业理化工程研究院
摘要：本发明提供了一种沾污件表面核材料无损测量装置及方法，所述装置包括低本底铅屏蔽室、测试平台、位置调节机构和探测器。所述低本底铅屏蔽室内设有测试平台，所述测试平台放置有待测沾污件；所述位置调节机构包括执行机构和驱动机构，所述执行机构一端与所述测试平台连接，另一端与所述驱动机构连接；所述探测器设置在所述低本底铅屏蔽室一侧的开口处，所述探测器与分析器和制冷机构连接。本发明的方法可以解决现有测试方法难以实现精确测量沾污件表面核材料残留量的技术问题，具有测量过程简单，测量速度快、无需采样和不会产生二次放射性废物等优点。
主权项：1.一种沾污件表面核材料无损测量装置，其特征在于，所述测量装置包括：低本底铅屏蔽室1，所述低本底铅屏蔽室1内设有测试平台2，所述测试平台2放置有待测沾污件；位置调节机构，所述位置调节机构包括执行机构31和驱动机构32，所述执行机构31一端与所述测试平台2连接，另一端与所述驱动机构32连接；探测器4，所述探测器4设置在所述低本底铅屏蔽室1一侧的开口处，所述探测器4与分析器和制冷机构连接。
全文数据：
权利要求：
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