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申请/专利权人：深圳市汇顶科技股份有限公司
摘要：描述了用于CMOS图像传感器CIS应用的采样的带隙参考生成的技术。例如，CIS包括像素阵列、一个或多个像素模数转换器ADC和采样的带隙参考发生器，所有这些都紧密地集成在一个芯片上。ADC依靠来自带隙参考发生器的稳定参考电平用于执行像素阵列的像素转换。采样的带隙参考生成器的实施例可以根据参考生成周期操作。每个周期可以包括第一部分和第二部分，在第一部分中，有源核心动态地稳定带隙参考电平，在第二部分中，核心被去激活，并且带隙参考电平基于该周期的先前的第一部分期间获得的采样的电平被输出。可以控制周期时序，以实现参考电平的充分动态稳定，同时减少来自核心的光子发射。
主权项：1.一种用于互补金属氧化物半导体CMOS图像传感器中的像素转换的方法，所述方法包括：由像素模数转换器ADC从像素阵列的多个光电探测器接收多个模拟像素响应信号；对于多个参考生成周期中的每一个，通过以下方式输出带隙参考电平：对于所述参考生成周期的第一部分，激活采样的带隙参考发生器的带隙核心，以生成并输出所述带隙参考电平作为动态稳定的带隙参考电平；在所述参考生成周期的所述第一部分期间，对所述动态稳定的带隙参考电平进行采样以获得保持的带隙参考电平；以及对于所述参考生成周期的第二部分，去激活所述带隙核心且基于所述保持的带隙参考电平输出所述带隙参考电平；以及由所述像素ADC至少基于所述带隙参考电平，转换所述多个模拟像素响应信号，以生成多个数字像素输出信号。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市汇顶科技股份有限公司 具有采样的带隙参考的CMOS图像感测
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