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申请/专利权人：美卓奥图泰芬兰有限公司
摘要：一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴204的方向发射入射X射线206的X射线管402。浆料处理单元201被配置成维持浆料样品202与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪601相对于所述浆料处理单元201沿第一方向定位，并且被配置成从传播到所述第一方向上的荧光X射线207中分离预定第一波长范围。第一晶体衍射仪被配置成将处于所分离的预定第一波长范围内的荧光X射线导向至第一辐射检测器602、1505。第一晶体衍射仪601包括具有衍射表面801、803、805的热解石墨晶体603、802、804，所述衍射表面是单连通表面。所述第一辐射检测器602是固态半导体检测器。
主权项：1.一种X射线荧光分析仪，包括：-X射线管402，用于沿第一光轴204的方向发射入射X射线206，-浆料处理单元201，被配置成维持浆料的样品202与所述X射线管之间的恒定距离，-第一晶体衍射仪601，相对于所述浆料处理单元201沿第一方向定位，所述第一晶体衍射仪601被配置成从传播到所述第一方向上的荧光X射线207中分离预定第一波长范围，并且被配置成将处于所分离的预定第一波长范围内的荧光X射线导向至第一辐射检测器602、1505，其特征在于：-所述第一晶体衍射仪601包括具有衍射表面801、803、805的热解石墨晶体603、802、804，-所述热解石墨晶体603、802、804的衍射表面801、803、805是单连通表面，以及-所述第一辐射检测器602是固态半导体检测器。
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百度查询： 美卓奥图泰芬兰有限公司 X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法
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