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申请/专利权人：美卓奥图泰芬兰有限公司
摘要：一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴204的方向发射入射X射线206的X射线管402。浆料处理单元201被配置成维持浆料的样品202与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪601、1501相对于所述浆料处理单元201沿第一方向定位。其包括第一晶体603、1502和第一辐射检测器602、1505，该第一辐射检测器被配置成以第一能量分辨率检测由所述第一晶体603、1502衍射的荧光X射线。第二晶体衍射仪1511相对于所述浆料处理单元201沿第二方向定位。其包括第二晶体1512和第二辐射检测器1515，该第二辐射检测器被配置成以第二能量分辨率检测由所述第二晶体1512衍射的荧光X射线。所述第一晶体603、1502是热解石墨晶体，所述第二晶体1512包括热解石墨以外的材料，并且所述第一晶体衍射仪和所述第二晶体衍射仪被配置成将相同元素的特征荧光辐射导向至其相应的辐射检测器。
主权项：1.一种X射线荧光分析仪，包括：-X射线管402，用于沿第一光轴204的方向发射入射X射线206，-浆料处理单元201，被配置成维持浆料的样品202与所述X射线管之间的恒定距离，-第一晶体衍射仪601、1501，相对于所述浆料处理单元201沿第一方向定位，所述第一晶体衍射仪601、1501包括第一晶体603、1502，-第一辐射检测器602、1505，被配置成以第一能量分辨率检测由所述第一晶体603、1502衍射的荧光X射线，-第二晶体衍射仪1511，相对于所述浆料处理单元201沿第二方向定位，所述第二晶体衍射仪1511包括第二晶体1512，-第二辐射检测器1515，被配置成以第二能量分辨率检测由所述第二晶体1512衍射的荧光X射线，其特征在于：-所述第一晶体603、1502为热解石墨晶体，-所述第二晶体1512包括热解石墨以外的材料，以及-所述第一晶体衍射仪和所述第二晶体衍射仪都被配置成将相同元素的特征荧光辐射导向至其相应的辐射检测器。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 美卓奥图泰芬兰有限公司 具有多个测量通道的X射线荧光分析仪和用于执行X射线荧光分析的方法
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