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基于Al的集成电路测试管理系统 

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申请/专利权人:杭州盛兔到家科技有限公司

摘要:本申请涉及智能管理领域,其具体地公开了一种基于Al的集成电路测试管理系统,其通过采集集成电路的测试数据的时间序列,其中,所述测试数据包括电压、电流和频率,并采用基于Al和深度学习技术对所述测试数据进行时序特征分析和相互关联交互,从而来智能地得到当前的测试点是否潜在故障和不良的判断结果。通过这样的方式,减少了对人工分析的依赖,同时加快了响应速度,并能够更准确地识别测试数据中的异常模式,以便及时发现潜在的故障和不良,提高故障检测的准确性和及时性。

主权项:1.一种基于Al的集成电路测试管理系统,其特征在于,包括:测试数据获取模块,用于采集集成电路的测试数据的时间序列,所述测试数据包括电压、电流和频率;测试数据数据规整模块,用于将所述测试数据的时间序列按照时间维度和样本维度进行数据规整以得到测试数据时序输入向量的序列;测试数据局部短期时序编码模块,用于将所述测试数据时序输入向量的序列进行测试数据局部短期时序编码以得到测试数据短期时序模式特征向量的序列;测试数据长期时序编码模块,用于将所述测试数据时序输入向量的序列进行测试数据长期时序编码以得到测试数据长期时序模式特征向量的序列;特征融合模块,用于将所述测试数据短期时序模式特征向量的序列和所述测试数据长期时序模式特征向量的序列进行融合以得到测试数据多尺度时序模式特征向量的序列;测试数据特征关联交互模块,用于将所述测试数据多尺度时序模式特征向量的序列进行测试数据特征关联交互以得到测试数据特征关联交互特征矩阵;判断结果生成模块,用于基于所述测试数据特征关联交互特征矩阵,得到判断结果。

全文数据:

权利要求:

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