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申请/专利权人：国立大学法人冈山大学
申请日：2020-06-25
公开（公告）日：2022-02-25
公开（公告）号：CN114096821A
主分类号：G01K11/20(20060101)
分类号：G01K11/20(20060101);G01K13/00(20210101);G01K13/20(20210101)
优先权：["20190703 JP 2019-124578"]
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2022.05.10#实质审查的生效;2022.02.25#公开
摘要：本发明以提供基于光学检测磁共振能够以更高的精度测量温度的技术为技术问题，通过如下方法解决该技术问题，该方法是基于无机荧光颗粒的光学检测磁共振来测量对象物的温度的方法，包括：a对包含无机荧光颗粒的对象物照射频率彼此不同的多种微波的步骤；b分别用不同的光子计数器测量照射各种微波时的无机荧光颗粒的荧光强度的步骤；c基于光子计数器间的脉冲测量数的误差来修正荧光强度的步骤；和d基于得到的修正值来计算对象物的温度的步骤。
主权项：1.一种基于无机荧光颗粒的光学检测磁共振来测量对象物的温度的方法，其特征在于，包括：a对包含无机荧光颗粒的对象物照射彼此不同的频率的多种微波的步骤；b分别用不同的光子计数器测量照射各种微波时的无机荧光颗粒的荧光强度的步骤；c基于光子计数器间的脉冲测量数的误差来修正荧光强度的步骤；和d基于得到的修正值来计算对象物的温度的步骤。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 国立大学法人冈山大学 ODMR温度测量方法
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