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【发明公布】一种NRZ眼图的眼高测量方法及CDR锁定检测电路_上海米硅科技有限公司_202211413913.7 

申请/专利权人:上海米硅科技有限公司

申请日:2022-11-11

公开(公告)日:2023-03-14

公开(公告)号:CN115801202A

主分类号:H04L1/20

分类号:H04L1/20;H04L7/033

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要:本申请提供了一种NRZ眼图的眼高测量方法及CDR锁定检测电路,属于通信技术领域,该方法包括:在时钟数据恢复电路处于锁定状态的情况下,将NRZ信号的中间电平作为第一阈值以及第二阈值的初始值;对第一阈值以及第二阈值进行第一类单次调节,增加第一阈值获得第一目标阈值,同时减少第二阈值获得第二目标阈值;计算第一目标阈值以及第二目标阈值对应的实际转变密度;确定实际转变密度是否大于期望转变密度;若实际转变密度大于期望转变密度,将第一目标阈值与第二目标阈值的差值确定为NRZ眼图的内部眼高。通过采用上述NRZ眼图的眼高测量方法及CDR锁定检测电路,解决了NRZ眼图的眼高测量效率低的问题。

主权项:1.一种NRZ眼图的眼高测量方法,其特征在于,包括:在时钟数据恢复电路处于锁定状态的情况下,将NRZ信号的中间电平作为第一阈值以及第二阈值的初始值;对所述第一阈值以及所述第二阈值进行第一类单次调节,增加第一阈值获得第一目标阈值,同时减少第二阈值获得第二目标阈值;计算所述第一目标阈值以及所述第二目标阈值对应的实际转变密度;确定所述实际转变密度是否大于期望转变密度;若实际转变密度大于期望转变密度,将第一目标阈值与第二目标阈值的差值确定为NRZ眼图的内部眼高。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海米硅科技有限公司 一种NRZ眼图的眼高测量方法及CDR锁定检测电路

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