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申请/专利权人：恒美光电股份有限公司
申请日：2023-07-27
公开（公告）日：2023-10-27
公开（公告）号：CN116945778A
主分类号：B41J3/44
分类号：B41J3/44;B41J3/407;B41J2/01;B41J29/393
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2023.11.14#实质审查的生效;2023.10.27#公开
摘要：本发明公开了一种偏光膜缺点检查喷印装置及方法，装置包括自动光学检查机、喷墨装置、备用轴喷墨装置和控制系统；自动光学检查机、喷墨装置和备用轴喷墨装置依次横置在偏光膜膜流方向的上方；控制系统分别与自动光学检查机、喷墨装置、备用轴喷墨装置电连接。本发明自动化程度高、喷印达成率高，能够很好地适用于现代偏光膜生产，具有非常广阔的应用前景。
主权项：1.一种偏光膜缺点检查喷印装置，其特征在于，包括自动光学检查机、喷墨装置、备用轴喷墨装置和控制系统；自动光学检查机、喷墨装置和备用轴喷墨装置依次横置在偏光膜膜流方向的上方；控制系统分别与自动光学检查机、喷墨装置、备用轴喷墨装置电连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 恒美光电股份有限公司 一种偏光膜缺点检查喷印装置及方法
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