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申请/专利权人：传周半导体科技(上海)有限公司
申请日：2023-08-21
公开（公告）日：2023-12-05
公开（公告）号：CN117169903A
主分类号：G01S17/08
分类号：G01S17/08;G01S7/48
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2023.12.22#实质审查的生效;2023.12.05#公开
摘要：本发明提供一种多像素面积组合激光测距方法及装置，方法包括：使用FPGA控制激光二极管发射激光信号，经被测物体表面反射后由SPAD阵列芯片接收所述激光信号；SPAD单光子雪崩二极管阵列芯片包括多个不同像素大小的SPAD，进行多个不同像素大小的SPAD的扫描选择后对激光信号进行测量得到多路输出结果；将多路输出结果进行存储并计算多路输出结果的拟合方差；对所有拟合方差进行比较，得到其中拟合方差最小的一组数据；计算拟合方差最小的一组数据对应的距离，得到本次测距所得距离信息。本发明提供的多像素面积组合激光测距方法及装置，通过使用不同像素面积的SPAD，优化不同场景下的测距能力，并在后端使用相对应的算法，从而大大提高各个场景下的测量精确度。
主权项：1.一种多像素面积组合激光测距方法，其特征在于，包括以下步骤：使用FPGA现场可编程门阵列控制激光二极管发射激光信号，经被测物体表面反射后由SPAD单光子雪崩二极管阵列芯片接收所述激光信号；所述SPAD单光子雪崩二极管阵列芯片包括多个不同像素大小的SPAD单光子雪崩二极管，进行所述多个不同像素大小的SPAD单光子雪崩二极管的扫描选择后对所述激光信号进行测量得到多路输出结果；将所述多路输出结果进行存储并计算所述多路输出结果的拟合方差；对所有拟合方差进行比较，得到其中拟合方差最小的一组数据；计算所述拟合方差最小的一组数据对应的距离，得到本次测距所得距离信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 传周半导体科技(上海)有限公司 一种多像素面积组合激光测距方法及装置
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