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【发明公布】一种碳化铬中杂质测定用标准工作曲线的快速绘制方法_自贡硬质合金有限责任公司_202311324651.1 

申请/专利权人:自贡硬质合金有限责任公司

申请日:2023-10-11

公开(公告)日:2024-01-23

公开(公告)号:CN117434049A

主分类号:G01N21/73

分类号:G01N21/73

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.02.09#实质审查的生效;2024.01.23#公开

摘要:本发明涉及分析检测技术领域,公开了一种碳化铬中杂质测定用标准工作曲线的快速绘制方法,包括如下步骤:S1称取重铬酸钾,加入溶剂,溶解,定容,摇匀,得到铬基体溶液;S2分别取多份等量的铬基体溶液,加入混合酸,按梯度浓度加入各杂质元素标准溶液,定容,摇匀;测定不同浓度的混合标准溶液中,每一杂质元素的发射光谱强度;S3汇总步骤S2中测定的发射光谱强度,分别绘制各杂质元素的拟合曲线,即为标准工作曲线。本发明中碳化铬中杂质测定用标准工作曲线绘制方法,可显著提高标准工作曲线的精度和准确度,明显减少碳化铬杂质元素测定标准工作曲线配制及测试绘制周期,即更便捷准确地测定碳化铬中的杂质元素。

主权项:1.一种碳化铬中杂质测定用标准工作曲线的快速绘制方法,其特征在于,包括如下步骤:S1配制铬基体溶液:称取重铬酸钾,加入溶剂,溶解,定容,摇匀,得到铬基体溶液;S2测定发射光谱强度:分别取多份等量的铬基体溶液,加入混合酸,按梯度浓度加入各杂质元素标准溶液,定容,摇匀;采用电感耦合等离子体发射光谱仪,测定不同浓度的混合标准溶液中,每一杂质元素的发射光谱强度;S3绘制标准工作曲线:汇总步骤S2中测定的发射光谱强度,分别绘制各杂质元素的拟合曲线,即为标准工作曲线。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 自贡硬质合金有限责任公司 一种碳化铬中杂质测定用标准工作曲线的快速绘制方法

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