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申请/专利权人：昂纳科技(深圳)集团股份有限公司
摘要：本发明提供TOSA芯片技术领域，具体涉及一种TOSA芯片的光学性能测试系统。包括沿着TOSA芯片的发射光信号光路设置的准直器件、隔离器件和分光器件，以及设置在分光器件两路分光光路的第一聚焦器件和第二聚焦器件，以及且分别与第一聚焦器件和第二聚焦器件聚焦点配合设置的第一光接收器和第二光接收器，所述第一光接收器与一功率测试模块连接，所述第二光接收器与一频谱测试模块连接。本发明的有益效果在于，与现有技术相比，本发明通过一种TOSA芯片的光学性能测试系统，成本低，结构简单，便于安装和维护，还能有效解决TOSA芯片功率检测不准确的问题。
主权项：1.一种TOSA芯片的光学性能测试系统，其特征在于：包括沿着TOSA芯片的发射光信号光路设置的准直器件、隔离器件和分光器件，以及设置在分光器件两路分光光路的第一聚焦器件和第二聚焦器件，以及且分别与第一聚焦器件和第二聚焦器件聚焦点配合设置的第一光接收器和第二光接收器，所述第一光接收器与一功率测试模块连接，所述第二光接收器与一频谱测试模块连接；所述第一光接收器和第二光接收器均为多模光纤；所述光学性能测试系统包括TOSA芯片放置平台和光路测试平台，所述TOSA芯片放置平台设有放置TOSA芯片的放置位，所述准直器件、隔离器件、分光器件、第一聚焦器件、第二聚焦器件、第一光接收器和第二光接收器均设置在光路测试平台上；所述第一光接收器和第二光接收器均为多模光纤，所述光路测试平台上设有两个分别放置第一光接收器或第二光接收器的V型槽安装块，所述V型槽安装块固定在光路测试平台上或者与光路测试平台一体式设置；所述准直器件、隔离器件、分光器件、第一聚焦器件和第二聚焦器件均通过银胶粘贴在光路测试平台上。
全文数据：
权利要求：
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