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一种基于图像处理的双串绝缘子自爆缺陷识别方法 

申请/专利权人:国网浙江省电力有限公司湖州供电公司

申请日:2024-01-18

公开(公告)日:2024-06-07

公开(公告)号:CN118154508A

主分类号:G06T7/00

分类号:G06T7/00;G06T7/11;G06T7/155;G06T7/73;G06T7/90;G06T7/136;G06T5/50

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.07#公开

摘要:本发明提出一种基于图像处理的双串绝缘子自爆缺陷识别方法,包括以下步骤:对绝缘子红外图像进行双阈值分割,对可视光图像进行HSI颜色特征分割,采用逻辑运算融合分割出目标区域,得到绝缘子二值图像;对目标区域进行形态学滤波和粘连连通域分离处理;接着对绝缘子连通域进行最小外接矩形定位,并构建外接矩形中点位置模型;获取最小外接矩形中点位置模型的最优分离直线,将双串绝缘子分离为单串绝缘子;依据相邻绝缘子间距值与设定的设立阈值进行比较得到自爆缺陷识别结果。本发明在融合了红外和可视光图像的优势信息及双串绝缘子分离技术的支持下,有效提高了绝缘子自爆缺陷识别率。

主权项:1.一种基于图像处理的双串绝缘子自爆缺陷识别方法,其特征是,包括以下步骤:步骤A、对绝缘子红外图像进行双阈值分割,对可视光图像进行HSI颜色特征分割,采用逻辑运算融合分割出目标区域,得到绝缘子二值图像;步骤B、对目标区域进行形态学滤波和粘连连通域分离处理;步骤C、对绝缘子连通域进行最小外接矩形定位,并构建外接矩形中点位置模型;步骤D、获取外接矩形中点位置模型的最优分离直线,将双串绝缘子分离为单串绝缘子;步骤E、依据相邻绝缘子间距与设定阈值进行比较得到自爆缺陷识别结果。

全文数据:

权利要求:

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