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申请/专利权人：深圳智微电子科技股份有限公司
申请日：2024-03-21
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118153495A
主分类号：G06F30/34
分类号：G06F30/34;G06F30/33;G06F115/08
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.07#公开
摘要：本发明属于芯片设计技术领域，具体涉及一种解决计量芯片功能性能一致性差的验证方法。首先在低版本芯片流片后，利用在该低版本芯片中增加的模块实现对模拟IP的数据进行抓取、抓取后打包以及打包后发送至该芯片的高版本芯片对应的FPGA，且高版本高于低版本；然后在高版本芯片的FPGA验证阶段，利用高版本芯片中增加的模块实现接收发送的数据、进而对接收的数据进行解包以及解包后发送至RTL接口，以对高版本芯片进行RTL验证。本发明将已经流片的低版本芯片的真实数据作为高版本芯片测试验证阶段的输入数据，因两个芯片的制造工艺是一样的，保证了输入数据源特性一致，保证了计量功能性能测试非常拟合，大大提高投片成功率。
主权项：1.一种解决计量芯片功能性能一致性差的验证方法，其特征在于，包括如下步骤：1在低版本芯片流片后，利用在该低版本芯片中增加的模块实现对模拟IP的ADC数据进行抓取、抓取后打包以及打包后发送至该芯片的高版本芯片对应的FPGA；2在高版本芯片的FPGA验证阶段，利用高版本芯片中增加的模块实现接收步骤1中发送的数据、进而对接收的数据进行解包以及解包后发送至RTL接口，以对高版本芯片进行RTL验证。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳智微电子科技股份有限公司 一种解决计量芯片功能性能一致性差的验证方法
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