申请/专利权人:深圳市大族数控科技股份有限公司
申请日:2023-12-26
公开(公告)日:2024-06-07
公开(公告)号:CN118150126A
主分类号:G01M11/02
分类号:G01M11/02
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.06.07#公开
摘要:本申请涉及一种光斑质量分析方法、系统、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括:实时获取采样光斑的振幅分布数据,对振幅分布数据和标定光斑的标定振幅分布数据进行结构相似性分析,得到结构相似性分析结果,根据结构相似性分析结果,对采样光斑进行质量评估,得到光斑质量评估结果。采用上述方案,可以实时监测采样光斑,并且将其与标定光斑进行相似性比对,依据相似性比对结果来评估采样光斑的质量,因而能够有效地提高光斑监测分析的精确度。
主权项:1.一种光斑质量分析方法,其特征在于,所述方法包括:实时获取采样光斑的振幅分布数据;对所述振幅分布数据和标定光斑的标定振幅分布数据进行结构相似性分析,得到结构相似性分析结果;根据所述结构相似性分析结果,对所述采样光斑进行质量评估,得到光斑质量评估结果。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 深圳市大族数控科技股份有限公司 光斑质量分析方法、系统、装置、计算机设备和存储介质
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