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具有杂散光消除功能的MEMS微镜、激光扫描设备和微镜的制作方法 

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申请/专利权人:西安知微传感技术有限公司

摘要:本发明提供了一种具有杂散光消除功能的MEMS微镜、激光扫描设备和微镜的制作方法。具有杂散光消除功能的MEMS微镜,其特征在于,包括:框架结构,框架结构的表面设置有消光层,框架结构具有孔结构;扭转结构,扭转结构设置在孔结构处,且扭转结构与孔结构的孔壁连接;反射镜,扭转结构支撑反射镜。本发明解决了现有技术中MEMS微镜存在杂散光的问题。

主权项:1.一种具有杂散光消除功能的MEMS微镜,其特征在于,包括:框架结构(10),所述框架结构(10)的上表面设置有消光层(12),所述框架结构(10)具有孔结构(11);扭转结构(20),所述扭转结构(20)设置在所述孔结构(11)处,且所述扭转结构(20)的至少一部分与所述孔结构(11)的孔壁连接;反射镜(30),所述扭转结构(20)支撑所述反射镜(30);所述消光层(12)为凹凸结构(40),所述凹凸结构(40)的深度大于等于2μm且小于等于12μm,所述凹凸结构(40)的表面为粗糙的表面,所述凹凸结构(40)的粗糙度Ra大于等于1μm;所述消光层(12)采用激光刻蚀制作而成,所述框架结构(10)的上表面全部被刻蚀。

全文数据:

权利要求:

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