申请/专利权人:上海知白智能科技有限公司;南京派格测控科技有限公司
申请日:2024-04-15
公开(公告)日:2024-06-07
公开(公告)号:CN118033386B
主分类号:G01R31/28
分类号:G01R31/28;G01R1/04
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.07#授权;2024.05.31#实质审查的生效;2024.05.14#公开
摘要:本发明提供一种芯片测试装置,所述测试装置包括:第一矢量网络分析仪;第二矢量网络分析仪;信号源;第一开关模组,所述第一开关模组的第一侧与所述第一矢量网络分析仪、所述信号源、所述第二矢量网络分析仪连接;信号处理装置,所述信号处理装置与所述第一开关模组的第二侧连接;第二开关模组,所述第二开关模组的第一侧与所述信号处理装置、所述第一开关模组的第二侧连接;双工器,所述双工器的第一侧与所述第一开关模组的第二侧、所述第二开关模组的第二侧连接;信号耦合器;第一开关;第二开关;第一连接端口;以及第二连接端口。本发明能够在大功率信号输入时,测试被测件的热态S参数。
主权项:1.一种芯片测试装置,其特征在于,所述测试装置包括:第一矢量网络分析仪;第二矢量网络分析仪;信号源,所述信号源输出大功率测试信号;第一开关模组,所述第一开关模组的第一侧与所述第一矢量网络分析仪、所述信号源、所述第二矢量网络分析仪连接;信号处理装置,所述信号处理装置与所述第一开关模组的第二侧连接;第二开关模组,所述第二开关模组的第一侧与所述信号处理装置、所述第一开关模组的第二侧连接;双工器,所述双工器的第一侧与所述第一开关模组的第二侧、所述第二开关模组的第二侧连接;信号耦合器,所述信号耦合器的第一侧与所述第一开关模组的第二侧、所述第二开关模组的第二侧连接;第一开关,所述第一开关的第一侧与所述信号耦合器的第二侧、所述第一开关模组的第二侧连接;第二开关,所述第二开关的第一侧与所述第一开关模组的第二侧、所述双工器的第二侧连接;第一连接端口,所述第一连接端口与所述第一开关的第二侧连接;以及第二连接端口,所述第二连接端口与所述第二开关的第二侧连接。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 上海知白智能科技有限公司;南京派格测控科技有限公司 芯片测试装置
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