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申请/专利权人：同方威视技术股份有限公司;清华大学
申请日：2021-07-07
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN115598719B
主分类号：G01V5/226
分类号：G01V5/226;G01N23/046
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.07#授权;2023.02.07#实质审查的生效;2023.01.13#公开
摘要：本发明涉及检查系统和方法。公开了一种检查系统，包括：承载装置；至少一个射线源；和探测器组件。至少一个射线源能够围绕旋转轴线相对于承载装置在多个扫描位置之间转动。至少一个射线源和探测器组件能够相对于承载装置沿旋转轴线升降。当至少一个射线源相对于承载装置位于多个扫描位置中的一个时，至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置沿旋转轴线升降并且至少一个射线源发射X射线；当至少一个射线源和探测器组件相对于承载装置升降预定距离后，至少一个射线源围绕旋转轴线相对于承载装置转动到多个扫描位置中的另一个。检查系统还基于探测器组件的检测数据来重建被检查的物体的三维扫描图像。
主权项：1.一种检查系统，包括：承载装置，用于在所述检查系统的检查区域中承载被检查的物体；至少一个射线源，用于发射X射线，其中每个射线源包括单独的壳体以限定真空空间并且包括封装在所述壳体内的多个靶点；和探测器组件，用于接收从所述至少一个射线源发射并经过所述检查区域的X射线，其中，所述检查系统构造成使得所述至少一个射线源能够围绕旋转轴线相对于所述承载装置在多个扫描位置之间转动，并且所述至少一个射线源和所述探测器组件能够相对于所述承载装置沿所述旋转轴线升降；其中，所述检查系统构造成：当所述至少一个射线源相对于所述承载装置位于所述多个扫描位置中的一个时，所述至少一个射线源和所述探测器组件相对于所述承载装置沿所述旋转轴线升降并且所述至少一个射线源发射X射线；并且当所述至少一个射线源和所述探测器组件相对于所述承载装置升降预定距离后，所述至少一个射线源围绕所述旋转轴线相对于所述承载装置转动到所述多个扫描位置中的另一个，其中，所述检查系统还构造成基于所述探测器组件的检测数据来重建所述被检查的物体的三维扫描图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 同方威视技术股份有限公司;清华大学 检查系统和方法
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