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【发明公布】一种考虑入射光准直角影响的模拟式太阳敏感器测量算法_南京理工大学_202410232443.7 

申请/专利权人:南京理工大学

申请日:2024-03-01

公开(公告)日:2024-06-11

公开(公告)号:CN118168581A

主分类号:G01C25/00

分类号:G01C25/00;G01C1/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.28#实质审查的生效;2024.06.11#公开

摘要:本发明公开了一种考虑入射光准直角特性影响的模拟式太阳敏感器测量算法,步骤主要包括:首先采集模拟式太阳敏感器各象限电池片的光电流,然后按照传统算法计算光斑中心点位置,从而计算出入射光高度角和方位角;在此基础上利用计算出的高度角、方位角和已知的入射光准直角对光斑面积进行修正,尽可能消除入射光准直角引入的测量误差;最后仍按照传统方法计算修正后的光斑中心点位置和入射光高度角方位角。本发明不改变任何硬件设计,仅通过在软件上增加光斑面积修正算法和优化测量流程即可提高模拟式太阳敏感器的测量精度。

主权项:1.一种考虑入射光准直角影响的模拟式太阳敏感器测量算法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:入射光线穿过位于模拟式太阳敏感器顶部的遮光罩中心的透光孔,投射在模拟式太阳敏感器底部的光电池片上形成光斑,其中模拟式太阳敏感器底部光电池片形状为正方形;步骤2:以模拟式太阳敏感器底面中心为原点,在模拟式太阳敏感器底面建立X、Y轴,竖直方向为Z轴,建立坐标系,模拟式太阳敏感器底面被X、Y轴划分为四个象限,采集模拟式太阳敏感器光电池片各象限输出的光电流值,根据光电池片各象限输出的光电流大小,利用光电流与光斑中心点位置关系计算出入射光在光电池片上投射的光斑中心点位置坐标,通过入射光斑的中心点位置坐标得到模拟式太阳敏感器对入射光的高度角和方位角的测量值;步骤3:推导出实际光斑相较于理想光斑扩散部分宽度,从模拟式太阳敏感器测量误差模型出发,获取实际光斑相较于理想光斑扩散部分的宽度;步骤4:获取修正后的光斑在光电池片各象限部分的面积,通过修正后的光斑面积得到补偿后的光斑中心点坐标以及补偿后的入射光高度角和方位角。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 南京理工大学 一种考虑入射光准直角影响的模拟式太阳敏感器测量算法

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