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申请/专利权人：成都四威功率电子科技有限公司
申请日：2024-03-20
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118196344A
主分类号：G06T19/00
分类号：G06T19/00;G01R29/08;G06T7/73;G06T17/00
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.02#实质审查的生效;2024.06.14#公开
摘要：本发明提供一种大功率暗室辐射测试快速规划测试路径方法、介质及装置，所述方法包括如下步骤：步骤100，导入SUT三维模型；步骤200，设置辐射环境参数；步骤300，根据辐射环境参数对SUT三维模型进行辐射测试快速路径规划，导出辐射测试路径点迹信息供测试系统使用。本发明填补了目前在大功率暗室辐射测试时人工对大型SUT的辐射测试点迹规划导致的误差及效率慢且非可视性问题，提高了辐射测试覆盖点迹的生成效率，具备多样场景大型SUT的测试规划测试点迹复用和扩展能力，具备很高的实用和应用推广价值。
主权项：1.一种大功率暗室辐射测试快速规划测试路径方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤100，导入SUT三维模型；步骤200，设置辐射环境参数；步骤300，根据辐射环境参数对SUT三维模型进行辐射测试快速路径规划，获得辐射测试路径点迹信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都四威功率电子科技有限公司 大功率暗室辐射测试快速规划测试路径方法、介质及装置
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皖公网安备 34010402703815号