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【发明公布】一种鉴定芝麻茎点枯病抗性水平的方法_湖南省作物研究所_202410406861.3 

申请/专利权人:湖南省作物研究所

申请日:2024-04-07

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN118186050A

主分类号:C12Q1/18

分类号:C12Q1/18;C12R1/645

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.14#公开

摘要:本发明涉及作物品种抗病性评价技术领域,尤其涉及一种鉴定芝麻茎点枯病抗性水平的方法。一种鉴定芝麻茎点枯病抗性水平的方法,包括如下步骤:1取芝麻幼苗的真叶,使用移液枪在真叶叶柄切口处接种菜豆壳球孢菌,作为实验组,以接种清水的真叶为对照组、培养;2调查实验组和对照组真叶的发病情况,计算病情指数和抗性指数,对芝麻品种的抗病能力进行评价。本发明方法离体接种可快速、准确的鉴定出芝麻品种茎点枯病的抗性水平,且相对于传统的活体接种方法,还具有成本低、操作方法简单的优势。

主权项:1.一种鉴定芝麻茎点枯病抗性水平的方法,其特征在于,包括如下步骤:1取芝麻幼苗的真叶,在真叶叶柄切口处接种菜豆壳球孢菌,作为实验组,以接种清水的真叶为对照组,培养;2调查实验组和对照组真叶的发病情况,计算病情指数和抗性指数,对芝麻品种的抗病能力进行评价。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 湖南省作物研究所 一种鉴定芝麻茎点枯病抗性水平的方法

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