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申请/专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请日：2024-03-29
公开（公告）日：2024-06-14
公开（公告）号：CN118191559A
主分类号：G01R31/28
分类号：G01R31/28
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.02#实质审查的生效;2024.06.14#公开
摘要：本申请涉及电路可靠性测试技术领域，涉及一种CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下，获取所述CPLD器件的待测功能项目请求；设置多种测试环境，每种测试环境包含至少一个环境应力参数；在多种测试环境下，响应于所述待测功能项目请求，对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试，获得测试数据；对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理，获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。采用本方法能够自动有效识别在不同运行环境下的参数差异，准确评估CPLD器件的可靠性。
主权项：1.一种CPLD可靠性测试方法，其特征在于，所述方法包括：在CPLD器件的测试参数设置完毕的情况下，获取所述CPLD器件的待测功能项目请求；设置多种测试环境，每种测试环境包含至少一个环境应力参数；在多种测试环境下，响应于所述待测功能项目请求，对所述CPLD器件进行环境应力偏置测试，获得测试数据；对多种测试环境下的测试数据进行拟合处理，获得所述待测功能项目请求相应的测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) CPLD可靠性测试方法、装置、计算机设备和存储介质
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