申请/专利权人：易思维(杭州)科技股份有限公司

申请日：2021-12-09

公开（公告）日：2024-06-14

公开（公告）号：CN114140458B

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06T7/13;G06T7/73

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.14#授权;2024.05.10#著录事项变更;2022.03.22#实质审查的生效;2022.03.04#公开

摘要：本发明提供一种利用光线交会方法定位待测物边缘处缺陷位置的方法，待测物表面缺陷已通过图像检测方法检测，不能用光线交会法定位的记为缺陷点A，通过以下步骤定位：1划定检测区域，提取待测物边缘线上的点，拟合得到边缘线I；2以边缘线I上点p到缺陷点A延长线的方向为运动方向；3以点A为起始点，沿运动方向，以预设步长在图像上选取像素坐标点进行光线交会，依此循环，直至与待测物数模交于一点，记其对应在图像上点Q；4依据图像已知点的相对关系获取实测点；以光线交会方法，确定实测点与待测物数模相交点的三维坐标，即完成定位。该方法能解决光线交会方法边缘点缺陷无法定位的问题，缩减边缘处的不可检测距离。

主权项：1.一种利用光线交会方法定位待测物边缘处缺陷位置的方法，待测物表面缺陷已通过图像检测方法检测，通过光线交会方法已确定部分缺陷位置；对于未能确定缺陷位置的缺陷，在图像中分别提取各缺陷的重心或中心点的坐标，记为缺陷点A；其特征在于分别通过以下步骤对单个缺陷点A进行定位：1）以缺陷点A为中心，按照预设检测范围划定检测区域，对检测区域内的图像进行处理，提取待测物边缘线上的点，然后对其进行直线或弧线拟合，将拟合线条记为边缘线I；2）以边缘线I上按照预设条件选定的点p到缺陷点A连线的延长线方向为运动方向；所述预设条件为：当边缘线I为直线时，点p为距缺陷点A最近的点；当边缘线I为弧线时，点p为弧线的圆心与缺陷点A连线的延长线与边缘线I相交的交点；3）以缺陷点A为起始点，沿运动方向，以预设步长在检测区域内的图像上选取像素坐标点，结合相机坐标系-待测物坐标系之间的转换关系进行光线交会，依此循环，直至与待测物数模交于一点，记为实际边缘点，记实际边缘点所对应的像素坐标点为点Q；4）在图像上求取缺陷点A到点p之间的距离，记为长度B，再以点Q为起点，沿运动方向获取距点Q距离为长度B的像素坐标点，记为实测点；或者，在图像上确定点Q到点p的之间的距离，记为长度C，再以缺陷点点A为起点，沿运动方向获取距点A距离为长度C的像素坐标点，记为实测点；以光线交会方法，确定所述实测点与待测物数模相交点的三维坐标，即为缺陷点A在待测物坐标系下的三维坐标，完成缺陷点A的定位。

全文数据：

权利要求：

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