申请/专利权人:财团法人金属工业研究发展中心
申请日:2022-12-20
公开(公告)日:2024-06-21
公开(公告)号:CN118225283A
主分类号:G01L1/24
分类号:G01L1/24;G01L5/00
优先权:
专利状态码:在审-公开
法律状态:2024.06.21#公开
摘要:本揭露提供一种曲面块材残留应力量测装置及曲面块材残留应力量测方法。曲面块材残留应力量测装置包含载台、X光检测模块及应力计算模块。在曲面块材残留应力量测方法中,以载台调整曲面块材的待检测点在最高点,接着以X光检测模块结合sin2Ψ法,分析取得应变值,再将应变值与曲面块材的材料特性导入演算式,以计算出曲面块材的曲面残留应力。所以曲面块材残留应力量测装置及曲面块材残留应力量测方法,适用在曲面块材的残留应力量测,并降低量测误差。
主权项:1.一种曲面块材残留应力量测装置,其特征在于,该曲面块材残留应力量测装置包括:一载台,配置以固定一曲面块材,让该曲面块材的一待检测曲面上的一待检测点维持在一最高点;一X光检测模块,位于该载台的一侧外,该曲面块材位于该载台与该X光检测模块之间,该X光检测模块配置以检测该待检测点,其中该X光检测模块发射一X射线至该待检测点,并该X射线产生一绕射信号,且该X光检测模块接收该绕射信号;及一应力计算模块,由该X光检测模块所测得的该绕射信号,分析得到一应变值,再将该应变值导入一演算式,以该演算式计算该曲面块材的一曲面残留应力,该演算式为: 其中,σ为该曲面残留应力,E为该曲面块材的一杨氏系数,ε为该应变值,hb为该曲面块材的一厚度,κ为该曲面块材的该待检测曲面上的一曲率,χ为一绕射深度。
全文数据:
权利要求:
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